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장비명
X-선 회절분석기(XRD) II
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영문명
X-Ray Diffractometer
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모델명 |
D8 ADVANCE (BRUKER) |
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원 리 |
X선을 샘플에 조사하면 그 중 일부는 회절을 일으키고, 그 회절각과 강도를 측정하여 각종물질의 결정구조를 분석
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주요성능 |
- Twin optics primary
- LE XE-T detector 500μm
(System type and Anode : Cu, Energy resolution : <380eV @ 8Kev)
- 3kW ST Generator w/o cool. HV Generator cooling
- Vertical Goniometer
- Sample Changers FLIPSTICK : 9 Samples
- DIFFRAC EVA & TOPAS
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용 도 |
- 결정상과 비정질상의 확인 및 시료 순도의 측정
- 다상 혼합물의 결정상과 비정질상의 정량적 분석
- 미세구조 분석(결정자 크기, 미세 변형률, 장애 등)
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담당자 |
이지혜 |
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담당자 연락처 |
031-201-3985 |
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위 치 |
공과대학 122호 |
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사용요금 (외부는 2배적용)
| 내용 |
금액 |
단위 |
| 측정 |
25000 |
시료(30분) |
| 분말시료작업 |
1000 |
시료수 |
| 기본시간 초과요금 |
25000 |
시료(30분) |
| 직접사용 |
20000 |
시료(30분) |
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기타사항 |
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