장비명 구면수차 보정 투과전자현미경(Cs-TEM) 영문명 Cs-Corrector TransmissionElectron Microscope(Cs-TEM)      모델명 JEM-ARM200F 원 리 Electron Gun에서 발생된 전자빔을 집속시켜 시료의 미소영역에 조사하여 투과 또는 회전되는 전자빔을 통해 시료의 morphology, 내부구조, 결정구조, 원자 배열 등을 분석하는 장비. 또 X-ray를 이용해 미소영역의 화학적 성분을 정성 . 정량 분석이 가능.   구면 수차를 보정 할 수 있는 수차보정장치(Cs-Corrector)와 STEM/TEM 기능을 기본 장착하여 고분해능, 고휘도 등 원자단위의 미세구조 확인이 가능. 주요성능 1.  Resolution   - TEM Point image: 0.23 nm  - TEM Lattice image: 0.10 nm  - Information limit: 0.11 nm  - STEM BF image: 0.078 nm  - STEM DF image: 0.078 nm 2. Electron gun : Cold field emission gun (Cold FEG) 3. Aberration corrector   -  STEM: NEO ASCOR HOAC  -  TEM: CETCOR with DSS 4. Magnification  - TEM LOW MAG mode : x50 to x50,000  - TEM MAG mode : x2,000 to x2,000,000  - TEM SA MAG mode : x8,000 to x800,000  - STEM MAG mode: x20,000 to x150,000,000  - STEM LOW MAG mode : x200 to x15,000 5. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)  - Dual SDD EDS system  - EDS Solid angle : > 1.75sr. Specimen tilting X/Y 6. CCD Camera : Gatan One view (4k x 4k, 25 fps live video)       용 도  - 시료의 구조형태 및 미세영역의 결정구조분석  -  Atomic Level의 STEM 분석  -  결정구조 분석을 위한 전자회절 분석  -  화학성분 분석을 위한  에너지 손실 전자 분광법 (EDS) 담당자 김소예 담당자 연락처 031-201-3980 위 치 생명과학대학 114-2호 사용요금 (외부는 2배적용) 내용 금액 단위 이미지관찰 200000 시간 EDS 40000 회(최대 30분) Powder sampling 5300 시료 Cu grid 4200 개 Ni grid 5300 개 Lacey grid 8400 개 기타사항