CNC밀링머신 (CNC)
GC-질량 분석기 (GC-MS)
NC 선반 (NC Lathe)
X-선 광전자 분광분석기 (XPS)
X-선 광전자 분광분석기 (XPS) II
X-선 회절분석기 (XRD)
고분해능 라만 분광기 (HR Raman)
고분해능 전계방출형주사전자현미경 2 (HR FE-SEM 2)
고분해능전계방출형주사전자현미경(HR FE-SEM)
고성능 이온 크로마토그래프(RFIC)
고출력 X-선 회절분석기 (18kW XRD)
공간오염 측정기 (Survey Meter)
구면수차 보정 투과전자현미경(Cs-TEM)
기체 크로마토그래프 (GC)
기체크로마토 탄뎀질량분석기 (GC/MS/MS)
냉동초박편기 (CUMT)
드릴태핑머신 (Drilling Tapping)
래디알 밀링 머신 (Radial Milling)
머시닝 센터 (Machining Center)
분광타원해석기 (Ellipsometer)
비표면적 분석기
산처리시스템 (Microwave System)
선반 (Lathe)
순수제조장치 (Pure Water)
액체 크로마토그래프 (HPLC/GPC)
액체크로마토 탄뎀질량분석기 (LC/MS/MS)
열분석기 (TGA/SDT)
온도 변조 시차주사열량계 (MDSC)
원소분석기 (EA)
원소분석기 II
원심분리기 (Centrifuge)
유도결합 플라즈마 분광계 (ICP)
유도결합 플라즈마 질량분석기 (ICP-MS)
유압식 기계톱 (Sawing Machine)
이온 크로마토그래프 (IC)
적외선 분광영상 현미경(FT-IR Imaging Microscope)
적외선분광광도계 (FT-IR)
전계방출형주사전자현미경 (FE-SEM)
전자동수질분석기 (AA3)
전자현미경 정밀 전처리시스템 (PIPS)
초고분해능 질량분석기 시스템
초고해상도 공초점 레이저 현미경
초순수 제조장치 (Ultra Pure Water)
콘타머신 (Contour Machine)
쾌속조형기 (3D Printer)
탁상 선반 (Bench Lathe)
투과전자현미경 (FE-TEM)
표면오염 측정기 (SC Monitor)
표면장력계 (Tensiometer)
핵자기공명분광계 (NMR 300MHz)
핵자기공명분광계 (NMR 400MHz)
--------------------전체 장비---------------------
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2025년 동계 단축근무
2025.12.29~2025.2.6
근무시간 9:00~15:00
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