월별실적
년 도
점유율
Sample수 대비
사용건수 대비
사용금액 대비
금액구분
VAT 포함
VAT 제외
장 비
----- 전체 장비 -----
주사형 전자현미경 (SEM/EDX)
금속현미경
포토 DSC (Photo DSC)
주사탐침현미경 (SPM)
2차원 X-선 회절분석기 (2D XRD)
라만분광계 (FT-Raman)
핵자기공명분광계 (NMR 300MHz)
고출력 X-선 회절분석기 (18kW XRD)
원소분석기 (EA)
기체 크로마토그래프 (GC)
GC-질량 분석기 (GC-MS)
액체 크로마토그래프 (HPLC/GPC)
유도결합 플라즈마 분광계 (ICP)
이온 크로마토그래프 (IC)
초임계 유체 추출장치 (SFE)
초순수 제조장치 (Ultra Pure Water)
X-선 광전자 분광분석기 (XPS)
열분석기 (TGA/SDT)
표면분석기
근적외선분석기 (NIRS)
편광 현미경
초순수 제조 장치
분광타원해석기 (Ellipsometer)
동적 신호 분석기
Digitizing Oscilloscope (100 MHz)
Digitizing Storage Oscilloscope (400 MHz)
슬라이드 메이커
적외선 카메라
Optical Spectrum Analyzer
대형출력기 (Plotter)
정밀 반도체 인수 분석기
X-선 회절분석기 (XRD)
고분해능전계방출형주사전자현미경(HR FE-SEM)
투과전자현미경 (FE-TEM)
미소경도시험기
인장 강도시험기 (UTM)
열전용량 분석기
전계방출형주사전자현미경 (FE-SEM)
산처리시스템 (Microwave System)
3차원 스캐너 시스템
순수제조장치 (Pure Water)
온도 변조 시차주사열량계 (MDSC)
냉동초박편기 (CUMT)
전자현미경 정밀 전처리시스템 (PIPS)
액체크로마토 탄뎀질량분석기 (LC/MS/MS)
비행시간차 액체크로마토 질량분석기 (LC-TOF/MS)
유도결합 플라즈마 질량분석기 (ICP-MS)
편광회전도 측정기(Polarimeter)
적외선분광광도계 (FT-IR)
액체크로마토그래피 (HPLC)
고분해능액체크로마토그래피질량분석기 (LC/MS)
핵자기공명분광계 (NMR 400MHz)
자외/가시광선 분광분석기 (UV/VIS)
고분해능질량분석기 (HR MS)
비표면적 분석기
기체크로마토 탄뎀질량분석기 (GC/MS/MS)
초저준위액체섬광계수기 (LSC)
고분해능 라만 분광기 (HR Raman)
원심분리기 (Centrifuge)
표면장력계 (Tensiometer)
집속이온빔장치 (FIB)
고성능 이온 크로마토그래프(RFIC)
적외선 분광영상 현미경(FT-IR Imaging Microscope)
X-선 회절분석기(XRD) II
구면수차 보정 투과전자현미경(Cs-TEM)
원소분석기 II
고분해능 전계방출형주사전자현미경 2 (HR FE-SEM 2)
액체 섬광 계수기 (LSC)
공간오염 측정기 (Survey Meter)
표면오염 측정기 (SC Monitor)
공초점 라만분광기 (Confocal Raman)
현미 퓨리에변환 적외선분광기
유기발광소자IVL분석시스템
유기EL증착기
유리기판절단기
열압착기
자동접착제분배시스템
간격자산포기
LC패널합착기
전자동수질분석기 (AA3)
test
확인
취소