사용자 구분별 건수

기 간	-
사용자 구분	본교타대정부지원업체협력업체일반기업체
금액구분	VAT 포함 VAT 제외
장 비	----- 전체 장비 -----주사형 전자현미경 (SEM/EDX)금속현미경포토 DSC (Photo DSC)주사탐침현미경 (SPM)2차원 X-선 회절분석기 (2D XRD)라만분광계 (FT-Raman)핵자기공명분광계 (NMR 300MHz)고출력 X-선 회절분석기 (18kW XRD)원소분석기 (EA)기체 크로마토그래프 (GC)GC-질량 분석기 (GC-MS)액체 크로마토그래프 (HPLC/GPC)유도결합 플라즈마 분광계 (ICP)이온 크로마토그래프 (IC)초임계 유체 추출장치 (SFE)초순수 제조장치 (Ultra Pure Water)X-선 광전자 분광분석기 (XPS)열분석기 (TGA/SDT)표면분석기근적외선분석기 (NIRS)편광 현미경초순수 제조 장치분광타원해석기 (Ellipsometer)동적 신호 분석기Digitizing Oscilloscope (100 MHz)Digitizing Storage Oscilloscope (400 MHz)슬라이드 메이커적외선 카메라Optical Spectrum Analyzer대형출력기 (Plotter)정밀 반도체 인수 분석기X-선 회절분석기 (XRD) 고분해능전계방출형주사전자현미경(HR FE-SEM)투과전자현미경 (FE-TEM)미소경도시험기인장 강도시험기 (UTM)열전용량 분석기전계방출형주사전자현미경 (FE-SEM)산처리시스템 (Microwave System)3차원 스캐너 시스템순수제조장치 (Pure Water)온도 변조 시차주사열량계 (MDSC)냉동초박편기 (CUMT) 전자현미경 정밀 전처리시스템 (PIPS)액체크로마토 탄뎀질량분석기 (LC/MS/MS)비행시간차 액체크로마토 질량분석기 (LC-TOF/MS)유도결합 플라즈마 질량분석기 (ICP-MS)편광회전도 측정기(Polarimeter)적외선분광광도계 (FT-IR)액체크로마토그래피 (HPLC)고분해능액체크로마토그래피질량분석기 (LC/MS)핵자기공명분광계 (NMR 400MHz) 자외/가시광선 분광분석기 (UV/VIS) 고분해능질량분석기 (HR MS) 비표면적 분석기기체크로마토 탄뎀질량분석기 (GC/MS/MS) 초저준위액체섬광계수기 (LSC)고분해능 라만 분광기 (HR Raman)원심분리기 (Centrifuge)표면장력계 (Tensiometer) 집속이온빔장치 (FIB)고성능 이온 크로마토그래프(RFIC)적외선 분광영상 현미경(FT-IR Imaging Microscope)X-선 회절분석기(XRD) II구면수차 보정 투과전자현미경(Cs-TEM)원소분석기 II고분해능 전계방출형주사전자현미경 2 (HR FE-SEM 2)액체 섬광 계수기 (LSC)공간오염 측정기 (Survey Meter)표면오염 측정기 (SC Monitor)공초점 라만분광기 (Confocal Raman)현미 퓨리에변환 적외선분광기유기발광소자IVL분석시스템유기EL증착기유리기판절단기열압착기자동접착제분배시스템간격자산포기LC패널합착기전자동수질분석기 (AA3)test

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