장비소개 > 현미경부 > Scanning Probe Microscope
 
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모델명 AutoProbe CP Research System
(Thermo Microscope Inc., U.S.A)
원 리 탐침이 시료표면 각각의 위치를 옮겨다니면서 원자간의 힘을 측정함으로써 각 점에서 높이에 대한 정확한 정보 분석.
주요성능 - Mode of operation :
   C-AFM, NC-AFM, MFM, EFM, STM
- Stage translation range : Up to 8 ㎜ × 8 ㎜
- Maximum sample size : Up to 50 ㎜ × 50 ㎜ × 25 ㎜
- Scan range : Up to 90 ㎛ and Up to 5 ㎛
- Scan rate : * STM : 0.1 ∼ 1 ㎐
                   * AFM : 1 ∼ 4 ㎐
                   * NC-AFM : 0.1 ∼ 2 ㎐
용 도 - 재료의 표·계면 관련 연구
- 나노 물성 연구
사용료
교내  
- Contact
- Non-contact
20,000원/시간
15,000원/시간
※ 외부 사용료는 교내의 2배를 원칙으로 함.
비고  
- 사전예약 필수
 
 
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