| 산처리시스템 (Microwave System) | Microwave System | MARS5 (CEM) | 분석장비 |
| 고출력 X-선 회절분석기 (18kW XRD) | X-Ray Diffractometer (18kW) | M18XHF-SRA (Mac Science) | 분석장비 |
| 초고해상도 공초점 레이저 현미경 | Super-resolution Confocal laser scanning microscope | LSM 980 | 분석장비 |
| 전계방출형주사전자현미경 (FE-SEM) | Field Emission Scanning Electron Microscope | LEO SUPRA 55, GENESIS 2000 (Carl Zeiss, EDAX) | 분석장비 |
| 머시닝 센터 (Machining Center) | Machining Center | LCV-50A (SMEC) | 가공장비 |
| 표면장력계 (Tensiometer) | Automatic Force Tensiometer | KSV Model Sigma 702 | 분석장비 |
| X-선 광전자 분광분석기 (XPS) | X-ray Photoelectron Spectroscopy | K-Alpha (Thermo Electron) | 분석장비 |
| 핵자기공명분광계 (NMR 400MHz) | Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer (400MHz) | JNM-ECZ400S/L1 | 분석장비 |
| 핵자기공명분광계 (NMR 300MHz) | Nuclear magnetic Resonance Spectrometer (300MHz) | JNM-AL300 (JEOL) | 분석장비 |
| 구면수차 보정 투과전자현미경(Cs-TEM) | Cs-Corrector TransmissionElectron Microscope(Cs-TEM) | JEM-ARM200F | 분석장비 |
| 투과전자현미경 (FE-TEM) | Field Emission Transmission Electron Microscopy | JEM-2100F (JEOL) | 분석장비 |
| 고성능 이온 크로마토그래프(RFIC) | Reagent-Free Ion Chromatograph | ICS-5000(ThermoFisher Scientific) | 분석장비 |
| 기체 크로마토그래프 (GC) | Gas Chromatograph | HP 6890N , Purge & Trap Concentrator-Autosampler (Agilent) | 분석장비 |
| GC-질량 분석기 (GC-MS) | GC-Mass Spectrometer | HP 6890 Plus GC / HP 5973 MSD / MultiPurpose Sampler MPS2 (HP) | 분석장비 |