장비명 투과전자현미경 (FE-TEM) 영문명 Field Emission Transmission Electron Microscopy      모델명 JEM-2100F (JEOL) 원 리 전자총에서 발생된 전자빔을 집속시켜 시료의  미세영역에 조사한 다음 시료를 투과한 전자들이  전자장을 이용하여 확대시킨 후 형광판에 비춰진  이미지를 관측,분석하는 장치 주요성능 1. Electron  Gun : 80 - 200㎸ FEG 2. Resolution : Point in TEM Mode 0.23㎚                       Lattice in TEM Mode  0.1nm 3. Objective Lens : Focal length 2.3㎜                            Spherical aberration 1.0㎜                            Chromatic aberration 1.4㎜                            Minimum step 1.4㎚ 4. Magnification : MAG Mode  × 1,500 ～ 1,500,000                          Low MAG Mode  × 50 ～ 6,000                 5. Specimen tilt : ±35°/±30°(X/Y) 6. STEM Mode : Lattice Resolution 0.2㎚                         Magnification × 10,000,000                         BF and HAADF detector 7. CCD camera : XAROSA EMSIS 8. EDS : Oxford INCA             Resolution 30㎟ 136eV at Mn Kα                  5B to 92U 용 도 가공된 재료 및 바이오 시료의 미소영역 상 관찰 결정구조 해석 및 조성 분석 담당자 안현정 담당자 연락처 031-201-3984 위 치 TEM실 (공대 124호) 사용요금 (외부는 2배적용) 내용 금액 단위 이미지관찰 90000 시간 EDS분석 20000 회(최대 30분) Powder Sampling 5300 시료 Cu Grid 4200 개수 Ni Grid 5300 개수 Lacey Grid 8400 개수 기타사항