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코드
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장비명
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영문명
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모델명
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부서명▼
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| 261 | 배향막 특성평가 장비 | PEM | | 디스플레이부품소재RIC |
| 263 | 접촉각 측정장치 | | | 디스플레이부품소재RIC |
| 264 | 입도분석기 | | | 디스플레이부품소재RIC |
| 267 | LCD시야각특성 분석장비 | | | 디스플레이부품소재RIC |
| 269 | 선경사각 측정장치 | | | 디스플레이부품소재RIC |
| 270 | 확산특성 분석시스템 | Hazemeter | | 디스플레이부품소재RIC |
| 271 | OLED용 I-V-L 측정장비 | | | 디스플레이부품소재RIC |
| 117 | 원자측정현미경 | AFM | 원자측정현미경 | 디스플레이부품소재RIC |
| 111 | 마이크로 라만 장치 | Micro- Raman spectrometer | invia Raman Microscope | 디스플레이부품소재RIC |
| 1 | 주사형전자현미경 | Scanning Electron Microscope (SEM/EDX) | Stereoscan 440 (Leica Cambridge, England) | 공동기기원 |
| 2 | 전계방출형주사전자현미경 | Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) | LEO SUPRA 55 (Carl Zeiss, Germany) | 공동기기원 |
| 3 | 고출력 X-선 회절분석기 | X-Ray Diffractometer (18kW XRD) | M18XHF-SRA (Mac Science, Japan) | 공동기기원 |
| 4 | 2차원 X-선회절분석기 | X-Ray Diffractometer with GADDS (2D XRD) | D8-Discover with GADDS (Bruker, Germany) | 공동기기원 |
| 5 | 핵자기공명분광계 (300MHz) | Nuclear Magnetic Resonance Spectrometer (NMR 300MHz) | JNM-AL300 (JEOL, Japan) | 공동기기원 |
| 6 | 라만분광계 | FT-Raman Spectrometer (FT-Raman) | RFS-100/s (Bruker,Germany) | 공동기기원 |
| 7 | 유도결합 플라즈마 분광계 | Inductively Coupled Plasma Spectrometer (ICP) | Direct Reading Echelle ICP (LEEMAN, USA) | 공동기기원 |
| 8 | 원소분석기 | Automatic Elemental Analyzer (EA) | Flash EA1112 (CE Instruments, Italy) | 공동기기원 |
| 9 | 기체크로마토그래프 | Gas Chromatograph (GC) | HP 5890Ⅱ(HP, USA) | 공동기기원 |
| 10 | GC-질량 분석기 | GC-Mass Spectrometer (GC-MS) | HP 6890 Plus GC / HP 5973 MSD (HP, USA) | 공동기기원 |
| 26 | 고분해능액체크로마토그래피질량분석기 | LC/MS High Resolution Mass Spectometer (LC/MS) | Waters Micrimass ZQ 2000 LC/MS (Waters) | 공동기기원 |