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코드
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장비명
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영문명▼
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모델명
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부서명
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| 270 | 확산특성 분석시스템 | Hazemeter | | 디스플레이부품소재RIC |
| 10 | GC-질량 분석기 | GC-Mass Spectrometer (GC-MS) | HP 6890 Plus GC / HP 5973 MSD (HP, USA) | 공동기기원 |
| 416 | GC-질량 분석기 | GC-Mass Spectrometer (GC-MS) | HP-5972A (HP, USA) | 중앙기기센터(서울) |
| 29 | 기체크로마토 탄뎀질량분석기 | Gas chromatograph/tandem mass spectrometer (GC/MS/MS) | Agilent 7000A GC/MS/MS | 공동기기원 |
| 9 | 기체크로마토그래프 | Gas Chromatograph (GC) | HP 5890Ⅱ(HP, USA) | 공동기기원 |
| 505 | 가스분석장치 | Gas Analyzer sampling unit | ES-C510 (Horiba) | 학부 |
| 6 | 라만분광계 | FT-Raman Spectrometer (FT-Raman) | RFS-100/s (Bruker,Germany) | 공동기기원 |
| 411 | 핵자기공명분광기 | FT-NMR Spectrometer (NMR) | Avance 400 (Bruker, Germany) | 중앙기기센터(서울) |
| 304 | 적외선분광광도계 | FT-IR Spectrometer (FT-IR) | Spectrum One System (Perkin-Elmer, U.K) | 식물대사연구센터 |
| 406 | 적외선분광분석기 | FT-IR Spectrometer (FT-IR) | IFS 28CS (Bruker, Germany) | 중앙기기센터(서울) |
| 37 | 적외선분광광도계 | FT-IR Spectrometer (FT-IR) | Spectrum One System (Perkin-Elmer) | 공동기기원 |
| 40 | 투과전자현미경 | Field Emission Transmission Electron Microscopy (FE-TEM) | JEM-2100F (JEOL) | 공동기기원 |
| 2 | 전계방출형주사전자현미경 | Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) | LEO SUPRA 55 (Carl Zeiss, Germany) | 공동기기원 |
| 413 | 고속단백질크로마토그래프 | Fast Protein Liquid Chromatography (FPLC) | BioLogic HR system (Bio-Rad, USA) | 중앙기기센터(서울) |
| 219 | 엔드실머신 | End Seal Machine | SDES-KHU01 (Shindo,Korea) | 디스플레이부품소재RIC |
| 210 | 전기광학특성장치 | Electro-optic characteristics Measurement System | LCMS-200 (Korea) | 디스플레이부품소재RIC |
| 57 | 드릴태핑머신 | Drilling & Tapping Machine | STD-360 (SMC,Korea) | 공동기기원 |
| 14 | 열분석기 (TGA) | Differential Thermal Analyzer | PC-DSC71 / TGA-7 (Perkin Elmer, USA), TGA Q5000 IR / SDT Q600 (TA, USA) | 공동기기원 |
| 30 | 냉동초박편기 | Cryo Ultramicrotome(CUMT) | PT PC Ultramicrotome & Photographic | 공동기기원 |
| 55 | 콘타머신 | Contour Machine | DV-450 | 공동기기원 |