장비명 2차원 X-선회절분석기 영문명 X-Ray Diffractometer with GADDS (2D XRD)      모델명 D8-Discover with GADDS (Bruker, Germany) 원 리 특성 X-선을 시료에 조사하였을때 원자나 분자, 이온등에 의해 회절된 X-선을 해석하여 물질의 정성, 정량 및 구조를 해석하는 장비. 특히 GADDS system은 2-Dimentional Area Detector를 채용하여 기존의 Point Detector에 비해 매우 빠른 측정이 가능하며, 다양한 Application을 구현할 수 있다. 주요성능 - GADDS Detector System * Real time data collection and display * Measuring range (2θ) : 65° at 6cm detector distance 18° at 30cm detector distance * Resolution (2θ) : 0.20°(512 × 512) or 0.10°(1024 × 1024) at 6cm 0.04°(512 × 512) or 0.02°(1024 × 1024) at 30cm - Operational Goniometer Mode : Horizontal - X-Ray Generator : Max. 3kW - Goebel Mirror for Parallel Beam - Centric Eulerian Cradle - Dynamic Scintillation Detector - Collimator (0.8, 0.3, 0.1, 0.05mm) - MonoCap (0.1, 0.3mm) - Laser/Video Sample Alignment System - Components for Small-angle X-ray Scattering (SAXS), Microdiffraction, Texture, Residual Stress, and Grazing Incident diffraction (GID) 용 도 - 시료의 정성,정량분석 - 박막의 성분 분석 (GID) - 시편의 집합조직, 잔류응력 측정 - 소각산란 측정 (SAXS) 보유부서 연구실험지원센터 XRD실 (공과대학관122호) 담당자 - - 담당자 연락처 031-201-3985 사용요금 http://crf.khu.ac.kr/equipment/index.htm 기타사항 http://crf.khu.ac.kr (온라인 사용 신청)