|
|
|
장비명 X-선회절분석기
|
영문명 X-Ray Diffractometer (XRD)
|
|
|
|
|
|
모델명 |
X |
|
|
원 리 |
X-선이 물질의 결정면에서 회절, 산란되는 현상을 이용한 것으로 X-선 회절 패턴을 측정하여 물질의 구조를 분석하는 장치이다.
특히 이 분석장치는 분말은 물론 박막에서의 고온측정이 가능하여 실시간으로 온도를 변화시키며, 결정의 구조를 분석 할 수 있으며, X'Celerator라는 고속 검출기를 이용하여 측정시 일반 검출기 보다 수배의 속도로 측정이 가능하다. |
|
|
주요성능 |
- Target : Cu 2KW(Max. 60kV 55mA)
- Detector : X'Celarator / Parallel Plat Collimator
- High Temp. Chamber : room temp. ~ 1,200도
- Primary Beam Optics(Line Focus)
NRD System/Programmable Divergernce Slits
Hybrid Monochromator(2X CU MPD PFX)
Beam Arrenuator/Beam mask (20mm,10mm,4mm,2mm)
Slit(1/2,1/4,1/8,1/16,1/32), Filter(Nickel)
- Diffracted Beam Optics
Bracket/Spinner/Open Eulerian Cradle
- Database : PDF 2
- Program : XRR 분석용(Wingixa, Reflectivity)
- 2x Monochrometer
- Stage : Texture Cradle Stage OEC, Sample Spinner
- Ultra Fast X'Celarator Detector
- High Temp. system |
|
|
용 도 |
- XRR(X-Ray Reflectivity)을 통하여 박막의 두께 측정
- 온도를 일정간격으로 상승시키면서 얻어지는 측정결과를 통하여 상의 변화 관찰
- 격자상수 측정, 결정크기, 결정의 배향성 등의 정보파악 |
|
|
보유부서 |
중앙기기센터 (서울C 문리과대학 서관 2층 201A/202/203호) |
|
|
담당자 |
_ _ |
|
|
담당자 연락처 |
02-961-0215 |
|
|
사용요금 |
- 일반측정시
교 내 시료당 3,000원
타 대 시료당 6,000원
기업체 시료당 9,000원
*30분 기준/초과 측정시 30분당 시료1개
------------------------------------------
- 고온측정시
교 내 시간당 10,000원
타 대 시간당 20,000원
기업체 시간당 40,000원
*측정시간 20분 이내는 시료 기준적용 |
|
|
기타사항 |
전화(02-961-0215) 또는 인터넷 예약
http://clia.khu.ac.kr/ |
|
|
|
|