장비명 X-선회절분석기 영문명 X-Ray Diffractometer (XRD)      모델명 X 원 리 X-선이 물질의 결정면에서 회절, 산란되는 현상을 이용한 것으로 X-선 회절 패턴을 측정하여 물질의 구조를 분석하는 장치이다. 특히 이 분석장치는 분말은 물론 박막에서의 고온측정이 가능하여 실시간으로 온도를 변화시키며, 결정의 구조를 분석 할 수 있으며, X'Celerator라는 고속 검출기를 이용하여 측정시 일반 검출기 보다 수배의 속도로 측정이 가능하다. 주요성능 - Target : Cu 2KW(Max. 60kV 55mA) - Detector : X'Celarator / Parallel Plat Collimator - High Temp. Chamber : room temp. ~ 1,200도 - Primary Beam Optics(Line Focus) NRD System/Programmable Divergernce Slits Hybrid Monochromator(2X CU MPD PFX) Beam Arrenuator/Beam mask (20mm,10mm,4mm,2mm) Slit(1/2,1/4,1/8,1/16,1/32), Filter(Nickel) - Diffracted Beam Optics Bracket/Spinner/Open Eulerian Cradle - Database : PDF 2 - Program : XRR 분석용(Wingixa, Reflectivity) - 2x Monochrometer - Stage : Texture Cradle Stage OEC, Sample Spinner - Ultra Fast X'Celarator Detector - High Temp. system 용 도 - XRR(X-Ray Reflectivity)을 통하여 박막의 두께 측정 - 온도를 일정간격으로 상승시키면서 얻어지는 측정결과를 통하여 상의 변화 관찰 - 격자상수 측정, 결정크기, 결정의 배향성 등의 정보파악 보유부서 중앙기기센터 (서울C 문리과대학 서관 2층 201A/202/203호) 담당자 _ _ 담당자 연락처 02-961-0215 사용요금 - 일반측정시 교 내 시료당 3,000원 타 대 시료당 6,000원 기업체 시료당 9,000원 *30분 기준/초과 측정시 30분당 시료1개 ------------------------------------------ - 고온측정시 교 내 시간당 10,000원 타 대 시간당 20,000원 기업체 시간당 40,000원 *측정시간 20분 이내는 시료 기준적용 기타사항 전화(02-961-0215) 또는 인터넷 예약 http://clia.khu.ac.kr/