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장비명
주사형전자현미경
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영문명
Scanning Electron Microscope (SEM/EDX)
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모델명 |
Stereoscan 440 (Leica Cambridge, England) |
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원 리 |
광학현미경보다 광원의 파장이 짧기 때문에 물질의 구조를 고배율로써 관찰
EDX (Energy Dispersive X-ray Spectrometer)
전자가 시료와 충돌한 후 방출되는 X-ray를 감지하여 시료의 성분 원소를 정량 ·정성적 분석 |
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주요성능 |
- EHT : 300 V - 30 ㎸
- Mag. : × 5 - × 300,000
- Resolution : 4.5 ㎚ (Tungsten)
- Probe current : 1 ㎀ - 1 ㎂
- Scan rotation : 0 - 360 ° |
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용 도 |
물질의 표면구조 관찰 |
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보유부서 |
연구실험지원센터 SEM/EDX실 (공과대학관121호) |
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담당자 |
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담당자 연락처 |
031-201-3983 |
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기타사항 |
http://crf.khu.ac.kr (온라인 사용 신청)
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