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장비명 주사탐침현미경
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영문명 Scanning Probe microscope (SPM)
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모델명 |
AutoProbe CP Research |
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원 리 |
시료의 표면을 분석하는 장치 (AFM)
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주요성능 |
- SPM Microscope stage, Head and Scanner
* Stage translation range : Up to 8mm x 8mm
* Maximum sample Size : Up to 50mm x 50mm
* Maximum sample Thickness : Up to 25mm
* Scan Range : Up to 90um and Up to 5um
* Video optical microscope : CCD video camera, and
13" monitor magnification range is x280 to x1400
- Phase Detection Microscopy
* Phase detector resolution : 0.1°
* Mode of operation : C-AFM,NC-AFM,MFM,EFM
- Electrochemistry AFM/STM
- Open and Closed Liquid/Gas Cell Design
- Material and sample size : Kel-F, 5x5x5mm
- Nanolithography
- Develop nanolighthographic media and
patterning techiques
- Study minimum feature size
- On image pattern generation
- Scanner : 5um/large(100um)
- Resolution : Study minimum feature size
- Internal Volume : 1ml |
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용 도 |
시료표면을 분석하는 장치 |
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보유부서 |
중앙기기센터 (서울C 문리과대학 서관 2층 201A/202/203호) |
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담당자 |
- - |
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담당자 연락처 |
02-961-0215 |
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사용요금 |
Contact Mode
교 내 시료당 3,000원
타 대 시료당 4,500원
기업체 시료당 6,000원
Non-Contact Mode
교 내 시료당 4,000원
타 대 시료당 6,000원
기업체 시료당 8,000원
*시료당 3포인트 기준/2포인트 추가당 추가 요금 적용 |
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기타사항 |
전화(02-961-0215) 또는 인터넷 예약
http://clia.khu.ac.kr/ |
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