장비명 주사탐침현미경 영문명 Scanning Probe microscope (SPM)      모델명 AutoProbe CP Research 원 리 시료의 표면을 분석하는 장치 (AFM) 주요성능 - SPM Microscope stage, Head and Scanner * Stage translation range : Up to 8mm x 8mm * Maximum sample Size : Up to 50mm x 50mm * Maximum sample Thickness : Up to 25mm * Scan Range : Up to 90um and Up to 5um * Video optical microscope : CCD video camera, and 13" monitor magnification range is x280 to x1400 - Phase Detection Microscopy * Phase detector resolution : 0.1° * Mode of operation : C-AFM,NC-AFM,MFM,EFM - Electrochemistry AFM/STM - Open and Closed Liquid/Gas Cell Design - Material and sample size : Kel-F, 5x5x5mm - Nanolithography - Develop nanolighthographic media and patterning techiques - Study minimum feature size - On image pattern generation - Scanner : 5um/large(100um) - Resolution : Study minimum feature size - Internal Volume : 1ml 용 도 시료표면을 분석하는 장치 보유부서 중앙기기센터 (서울C 문리과대학 서관 2층 201A/202/203호) 담당자 - - 담당자 연락처 02-961-0215 사용요금 Contact Mode 교 내 시료당 3,000원 타 대 시료당 4,500원 기업체 시료당 6,000원 Non-Contact Mode 교 내 시료당 4,000원 타 대 시료당 6,000원 기업체 시료당 8,000원 *시료당 3포인트 기준/2포인트 추가당 추가 요금 적용 기타사항 전화(02-961-0215) 또는 인터넷 예약 http://clia.khu.ac.kr/