CNC밀링머신 (CNC)
GC-질량 분석기 (GC-MS)
NC 선반 (NC Lathe)
X-선 광전자 분광분석기 (XPS)
X-선 광전자 분광분석기 (XPS) II
X-선 회절분석기 (XRD)
X-선 회절분석기(XRD) II
고분해능 라만 분광기 (HR Raman)
고분해능전계방출형주사전자현미경 2 (HR FE-SEM 2)
고분해능전계방출형주사전자현미경(HR FE-SEM)
고성능 이온 크로마토그래프(RFIC)
고출력 X-선 회절분석기 (18kW XRD)
공간오염 측정기 (Survey Meter)
구면수차 보정 투과전자현미경(Cs-TEM)
기체 크로마토그래프 (GC)
기체크로마토 탄뎀질량분석기 (GC/MS/MS)
냉동초박편기 (CUMT)
드릴태핑머신 (Drilling Tapping)
래디알 밀링 머신 (Radial Milling)
머시닝 센터 (Machining Center)
비표면적 분석기 (BET)
산처리시스템 (Microwave System)
선반 (Lathe)
순수제조장치 (Pure Water)
액체 크로마토그래프 (HPLC/GPC)
액체크로마토 탄뎀질량분석기 (LC/MS/MS)
열분석기 (TGA/SDT)
온도 변조 시차주사열량계 (MDSC)
원소분석기 (EA)
원소분석기 (EA) II
원심분리기 (Centrifuge)
유도결합 플라즈마 분광계 (ICP)
유도결합 플라즈마 질량분석기 (ICP-MS)
유압식 기계톱 (Sawing Machine)
이온 크로마토그래프 (IC)
적외선 분광영상 현미경(FT-IR Imaging Microscope)
적외선분광광도계 (FT-IR)
전계방출형주사전자현미경 (FE-SEM)
전자동수질분석기 (AA3)
전자현미경 정밀 전처리시스템 (PIPS)
초고분해능 질량분석기 시스템 (HRMS)
초고속원심분리기
초고해상도 공초점 레이저 현미경 (CLSM)
초순수 제조장치 (Ultra Pure Water)
콘타머신 (Contour Machine)
쾌속조형기 (3D Printer)
탁상 선반 (Bench Lathe)
투과전자현미경 (FE-TEM)
표면오염 측정기 (SC Monitor)
표면장력계 (Tensiometer)
핵자기공명분광계 (NMR 300MHz)
핵자기공명분광계 (NMR 400MHz)
--------------------전체 장비---------------------
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