Ұ > ̰
 
Warning: session_start(): Cannot send session cookie - headers already sent by (output started at /home/crf/www/common/head.htm:102) in /home/crf/www/path/para-program/php-common/common.php on line 2

Warning: session_start(): Cannot send session cache limiter - headers already sent (output started at /home/crf/www/common/head.htm:102) in /home/crf/www/path/para-program/php-common/common.php on line 2
 
 
  전체메뉴
  분석장비
  GC-질량 분석기 (GC-MS)
  X-선 광전자 분광분석기 (XPS)
  X-선 회절분석기 (XRD)
  X-선 회절분석기(XRD) II
  고분해능 라만 분광기 (HR Raman)
  고분해능 전계방출형주사전자현미경 2 (HR FE-SEM 2)
  고분해능전계방출형주사전자현미경(HR FE-SEM)
  고성능 이온 크로마토그래프(RFIC)
  고출력 X-선 회절분석기 (18kW XRD)
  구면수차 보정 투과전자현미경(Cs-TEM)
  금속현미경
  기체 크로마토그래프 (GC)
  기체크로마토 탄뎀질량분석기 (GC/MS/MS)
  냉동초박편기 (CUMT)
  분광타원해석기 (Ellipsometer)
  비표면적 분석기
  산처리시스템 (Microwave System)
  순수제조장치 (Pure Water)
  액체 크로마토그래프 (HPLC/GPC)
  액체크로마토 탄뎀질량분석기 (LC/MS/MS)
  열분석기 (TGA/SDT)
  온도 변조 시차주사열량계 (MDSC)
  원소분석기 (EA)
  원소분석기 II
  원심분리기 (Centrifuge)
  유도결합 플라즈마 분광계 (ICP)
  유도결합 플라즈마 질량분석기 (ICP-MS)
  이온 크로마토그래프 (IC)
  적외선 분광영상 현미경(FT-IR Imaging Microscope)
  적외선분광광도계 (FT-IR)
  전계방출형주사전자현미경 (FE-SEM)
  전자동수질분석기 (AA3)
  전자현미경 정밀 전처리시스템 (PIPS)
  초순수 제조장치 (Ultra Pure Water)
  투과전자현미경 (FE-TEM)
  편광회전도 측정기(Polarimeter)
  표면장력계 (Tensiometer)
  핵자기공명분광계 (NMR 300MHz)
  핵자기공명분광계 (NMR 400MHz)
  RI측정장비
  메뉴 초기화
 
÷ ̼ ǥ鼺 ִ 5 ϰ 2 3 м ϰ ֽϴ.
Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (X ̷ м)
    -   ġ : 121ȣ
    - : ֹ [ moon@khu.ac.kr ]
    - ó : 031-201-2246
Metallurgical Microscope (ݼ ̰)
    -   ġ : 126ȣ
    - : 迵 [ younghee@khu.ac.kr ]
    - ó : 031-201-2246
Scanning Electron Microscope (ֻ ̰)
    -   ġ : 121ȣ
    - : ֹ [ moon@khu.ac.kr ]
    - ó : 031-201-2246
Scanning Probe Microscope (ֻ Žħ ̰)
    -   ġ : 129ȣ
    - : ֹ [ moon@khu.ac.kr ]
    - ó : 031-201-2246
Transmission Electron Microscope ( ̰)
    -   ġ : 124ȣ
    - : 迵 [ younghee@khu.ac.kr ]
    - ó : 031-201-2246
Polarizing microscope ( ̰)
    -   ġ : 465-1ȣ
    - : ̿
    - ó : 031-201-2969
 
 
[ 개인정보 처리방침 ]